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X熒光光譜儀ROHS檢測儀的分類、應用及工作原理

更新時間:2019-08-28點擊次數(shù):1749

X熒光光譜儀ROHS檢測儀的分類、應用及工作原理

分類:ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀, X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀和能量色散X射線熒光光譜儀

應用:利用X射線檢測ROHS標準規(guī)定中的元素的含量

工作原理

1、波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:

nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特征信息。

2、能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:

Q=kE

式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量;k為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。

待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

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